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简单介绍：
日本sentec光学非接触位移测量系统IFD2400,IFD2400与控制器根据传感器被校对，能大体上要任意的长度的光缆连接着。 为此，在从控制器远方离开了的地方能使用线sa
详情介绍：
日本sentec光学非接触位移测量系统IFD2400
IFD2400，根据焦点光学式非接触位移测量系统，位移和距离等的高精度测量变成了可能。 能测量不规则反射方面也镜面也进行。 能进行是东名并列的情况，测量距离之外又加上，从一侧厚的测量。 同时，因为发光部和受光部同样轴上配置，能避开影子的发生。
又，IFD2400与控制器根据传感器被校对，能大体上要任意的长度的光缆连接着。 为此，在从控制器远方离开了的地方能使用线sa。
IFD2400，根据焦点光学式非接触位移测量系统，位移和距离等的高精度测量变成了可能。 能测量不规则反射方面也镜面也进行。 能进行是东名并列的情况，测量距离之外又加上，从一侧厚的测量。 同时，因为发光部和受光部同样轴上配置，能避开影子的发生。
又，IFD2400与控制器根据传感器被校对，能大体上要任意的长度的光缆连接着。 为此，在从控制器远方离开了的地方能使用线sa。
共焦点光学式非接触変位測定システム | ||
IFD2400 | ||
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IFD2400は、共焦点光学式非接触変位測定システムにより、変位や距離などの高精度測定が可能となりました。 測定は乱反射面でも鏡面でも行うことが出来ます。 東名タイの場合は、測定距離に加えて、片側から厚さの測定を行うことが出来ます。 また、発光部と受光部が同一軸上に配置されているため、影の発生を避けることができます。
